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● 辉度最高30000CD/㎡ ● 均匀度95% ● 老化，测试工位均可使用 ● Flick值，色度等可根据客户要求定制
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显示面板 半导体
业务总监：夏雨 Rain
邮箱：sales@hideame.com
电话：13776004309
LCM检测 品牌系列：LCM检测 ● 支持高低温老化测试 ● 支持恒压恒流输出 ● 支持LVDS、MIPI、EDP信号输出 产品特点 *高低温高湿环境老化测试； *1TO2信号测试 *温度（-30-85℃）、湿度（3
● 对位mark相机：1400万像素 ● 可调变焦：65-125mm ● 光源：视觉环形光源，亮度可调节，带控制器
● eDP:符合1.4标准，最高支持8.1G ● 支持14路电源，电压精度 3mV ● PG内3gamma算法在业界处于领先位置 ● 支持MIPI( C-PHYD-PHY)、SPI、LVDS、 RGB、MCU、MTP可扩展
● 测试温度：-50℃~﹢150℃ ● 温度精度： 0.1℃ ● 根据产品尺寸可定制设备 ● 产品提篮式放置，缩短信 号线长度，使信号更稳定
项目HJ 100标准机规格有效检测区域400x400mm最大扫描速度 1500mm/s采样通道数2~4通道扫描方式A扫、B扫、C扫、T扫、Tray扫等采样频率标配每通道1G/s，选配每通道5G/s探头频率1~500MHz扫描闸门时间范围最小1 ns，最大100,000 ns最大分层切片数 400层图像分辨率最小10x10像素，最大65,000*65,000像素最小缺陷精度5um大理石模组（选配）
苏公网安备32059002008060号